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在上篇中介紹了環形燈RL、環形燈+偏光、同軸照明CXI、近距離垂直照明NVI，針對常規觀察、反光消除、光滑面裂紋、深孔無陰影等場景。除此之外徠卡還有點光源SLI、漫射/高度漫射DI&HDI、多對比度MCI，應對曲面反光、靈活打光、標準化檢測以及透明樣品觀測。
點光源照明（SLI，鵝頸燈）
配備靈活可調節鵝頸光源，可自由調整光線入射角度，實現高對比度成像，適用于一部分樣品類型。通過改變光照角度，可強化樣品表面凹凸、劃痕等紋理細節。以犀牛甲蟲樣品為例，可清晰呈現甲殼表面細微的溝槽與顆粒結構。
適用：
生物標本、零部件表面缺陷排查；
特點：
光線角度靈活，對比度高，人工調節，適合探索式觀察。
左圖為使用環形燈，右圖為使用點照明拍攝的犀牛甲蟲對比圖。
漫射和高度漫射照明（DI和HDI，穹頂燈）
適用彎曲、不平整、高反射樣品的鏡面反光問題。通過漫射腔體輸出柔和多方向光線，抑制曲面產生的刺眼高光HDI高度漫射的漫化效果更強，可阻隔環境雜光，適合圖像拍攝采集。 以PCB電路板為例，環形燈模式下焊盤存在大片反光，切換DI照明后，反光光斑消除，線路、焊點、引腳細節清晰可見。
適用：
曲面PCB、弧形金屬件、復雜凹凸反光工件；
特點：
有效抑制曲面背光反射，成像柔和，適合拍照存檔。
左圖為使用環形燈，右圖為使用漫射照明拍攝的PCB對比圖。
多對比度照明（MCI）
提供兩組角度可重復的照明光源，兼顧高對比度與參數可復現，可看清普通照明難以分辨的細微細節。區別于手動調節的點光源，MCI照明角度固定可重復，滿足批量檢測的一致性。如手表機構樣品，環形燈下很多細微紋路不易分辨，MCI模式下劃痕、縫隙、加工紋理均可清晰顯現。
適用：
鐘表精密零件、工業批量質檢；
特點：
成像對比度好，照明條件可重復，適配標準化檢測流程。
左圖為使用環形燈，右圖為使用多對比度照明拍攝的手表表面劃痕對比圖。
看得更亮，并不等于看得更清楚。 真正有效的顯微觀察，來自光線與樣品之間的精準匹配。選擇適合的照明方式，讓每一個需要被發現的細節，都獲得恰到好處的呈現。本系列文章介紹徠卡多種體視鏡照明方案，覆蓋不同樣品表面類型。為了更好的滿足中國客戶需求，如果您有樣品需要測試，請聯系徠卡專業的售前支持團隊，謝謝。
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