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看得見,才能切得準:如何在電鏡樣品中精準找到目標細胞

更新時間:2026-10-16      點擊次數:60
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情景導入

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在樹脂塊中定位特定細胞或結構,是超薄切片技術中最持久的挑戰之一。傳統的光學輔助工具(體視顯微鏡、干涉色和明場成像)有助于確定塊面方向和評估切片厚度。不過,它們仍然無法確定熒光標記感興趣區域的確切位置。


通過在嵌入樹脂后,保留樣品內的熒光信號,從而可直接觀察到區塊內的目標結構。


這一功能將修塊從一個不確定的過程,轉變為一個有指導的工作流程,確保有效地暴露感興趣的區域,并將損失降低。


Leica UC Enuity將熒光成像,與體視顯微鏡和明視野顯微鏡,以及自動修塊程序集成在一起。這種組合使用戶能夠實時觀察標記的細胞,同時控制切片參數。通過使光學圖像與熒光信號相一致,UC Enuity能夠精確導航到嵌入目標并減少樣品浪費。


本章以9月24號推文內容為基礎。在這里,重點從制備均勻的切片,轉移到使用熒光作為導航工具。這些技術對于CLEM等關聯工作流程尤為重要。因為在這些流程中,熒光和EM數據之間的精確對應至關重要。在下一篇中,我們將看到顯微CT如何從另一個維度,將定位能力從光學信號,擴展到體積成像數據。


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嵌入Lowicryl® HM20的秀麗隱桿線蟲;咽部顯示紅色熒光(mCherry)。圖中顯示的是,EM AFS2流動腔底部形成的樹脂膠囊的正視圖。


膠囊是經過人工預修剪的。隨后,利用UC Enuity的自動修塊功能AutoTrim,在蠕蟲熒光的引導下自動修整塊面。兩個正方形相對于圖像的邊長均為250 µm。


簡介

電子顯微鏡,包括透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM),被廣泛用于獲取生物樣本或非生命材料的詳細結構信息。超薄切片技術是制備用于TEM/SEM分析的超薄切片(小于100 nm)的技術。


在樣品制備過程中,將小塊樣品嵌入環氧樹脂或丙烯酸樹脂中,修剪掉多余的樹脂,然后用玻璃刀或鉆石刀將樣品切成超薄切片(50 nm-100 nm)。


為了獲得樣本的三維結構信息,體電子顯微鏡(vEM)正變得越來越流行。遺憾的是,在處理大型標本時,往往必須專注于特定的區域,以優化采集時間和數據量,從而提高工作流程的效率。


形態學特征可用于找到這樣的興趣區域(ROI),但為了特異性地識別細胞或結構,熒光通常的方法。


許多專用的分子標記,如直接標記和基因編碼的熒光蛋白,可用于引導超薄切片技術和電子顯微鏡圖像采集,最終實現光鏡和電鏡關聯(CLEM)。


徠卡顯微系統的UC Enuity超薄切片機可配備高放大倍率、電動化的體視熒光顯微鏡。這種配置能夠在修塊和切片過程中可視化熒光,從而允許在超薄切片步驟中進行熒光靶向定位。


盡管已經開發了許多CLEM工作流程,但使用熒光來識別樹脂包埋標本中的特定靶點,仍然具有挑戰性。特別是體積掃描電子顯微鏡樣品制備所需的標準濃度重金屬和環氧樹脂可能會削弱熒光,使得此類方案在某些情況下不太適合或不適合光學顯微鏡。


標準配置

使用標準方法制備vEM樣品時,重金屬和環氧樹脂的濃度 會影響熒光信號,使這種方法有時候不太適合,或不適合光學顯微鏡的方案。


為克服這一問題,我們設計了一種方法,以在樣品制備過程中,保存熒光信號,以定位標記結構。


致謝


作者感謝Paolo Ronchi和Yannick Schwab(兩人都在德國海德堡EMBL工作),允許我引用他們使用熒光進行定點修塊的論文。


此外,還要特別感謝Felix Gaedke博士(德國科隆CECAD),感謝他制備樣品并在許多方面提供知識。


德國科隆遺傳學研究所Thorsten Hoppe教授友情提供的 elegans。


樣品固定

制備電子顯微鏡(EM)標本的首要任務是固定樣本。


在本文重點介紹的方案中,使用物理低溫固定技術,來替代傳統的化學固定技術。在這種方法中,樣品幾乎在瞬間被高 壓冷凍(HPF),防止冰晶形成,并使水保持玻璃狀(玻璃化)。這被認為是一種盡可能接近自然的狀態。對于細胞層,可使用投入式冷凍裝置(如Leica  EM GP2)進行低溫固定,但對于顆粒和深度達200微米的較厚樣品,則要進行HPF(如使用EM ICE)。


冷凍替代和染色

然后,在低于或接近-90°C的溶劑中對樣本進行脫水(冷凍替代,FS),以保存超微結構。化學固定相比,冷凍替代被認為能提供更好的保存效果。一般來說,對于樹脂內熒光,丙酮優于乙醇用于脫水,但為了避免熒光損失,暴露時間要短。


由于有機材料和包埋樹脂的電子密度較低,因此在FS過程中會加入重金屬化合物,如醋酸鈾酰(UA)和,它們對蛋白質和脂質具有特殊的親和力。


由于會影響熒光,因此在下面的凍存替代過程中使用了低濃度的UA。


滲透和包埋

替代水之后,使用溶劑稀釋樹脂,以促進樣品在固化前的滲透。為了保持熒光信號,并避免固化溫度過高,Lowicryl® HM20或LR White等丙烯酸樹脂是選擇。此外,丙烯酸樹脂可在低溫(約-20°C)下使用,有助于保持樣品結構的完整性。




示例方案1-細胞樣本



1

低溫固定

對于HPF,細胞通常生長在藍寶石圓盤上(因為玻璃會被HPF破壞),或以懸浮液的形式直接置于樣品架上。標準裝配方法和HPF方案可從不同制造商處獲得(如EM ICE)為防止細胞外冰晶的形成,并提高冷凍質量,可使用冷凍保護劑。在組裝用于高壓冷凍的樣品載具時,通常會使用非滲透性液體,如右旋糖酐(15-20%)、Ficoll®(5-20%)或未稀釋的1-十六碳烯。


2

冷凍替代和染色

如上所述,冷凍置換使用的是溶于丙酮中0.1%的低濃度醋酸鈾,根據細胞類型和UA儲存來源的不同,有些方案甚至將UA濃度降至0.04%。雖然有些方案建議在-90°C下,初始孵育72小時,但細胞樣本也可使用較短的孵育時間,以加快這一漫長的過程(圖1)。為了最大限度地減少長時間操作過程中的人工操作,最好使用帶液體處理功能的自動冷凍替代系統。徠卡開發了這樣一種設備,即自動冷凍置換系統EMA FS2,它配備了一個液體處理裝置,即冷凍置換處理器EM FSP。


如圖1所示,細胞樣本在0.1%的醋酸鈾和無水丙酮中保存9小時,溫度為-90°C。之后溫度逐漸升至-45°C,并在此溫度下保持5小時,以便UA對樣品進行染色(具體時間取決于樣品)。然后,通過三組丙酮清洗步驟,去除乙酸鈾酰,完成冷凍置換和染色步驟。


3

滲透和聚合

然后,開始用濃度不斷增加的Lowicryl® HM20樹脂浸潤,浸潤過程持續2小時,同時將溫度升至-25°C。溫度保持在-20°C以下,這是為了保持樣本的完整性,并利用樹脂的低粘度進行有效浸潤,避免蛋白質破壞。在三個樹脂交換周期,以及隨后48小時的主要紫外線聚合過程中,溫度都保持在-25°C。在此過程中,EM AFS2上的液體處理裝置,被自動紫外線燈取代。


在最后的9小時固化過程中,紫外線聚合作用繼續進行,同時溫度升至20°C,在此溫度下可對樣品進行后續修剪和切片處理(例如,請參閱本節熒光微調應用說明)。


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圖1:用于EM AFS2的冷凍替代方案1,適用于較小的細胞樣本。




實例方案2-類器官與胚胎樣本制備



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低溫固定

要冷凍固定器官組織、組織塊或果蠅等等比細胞大的模型生物樣本,HPF是方法,但樣品厚度極限約為200微米。


由于HPF期間應避免不必要的/非樣品空間,因此可選用不同容積的樣品架適配樣品。由于細胞外空間比細胞大得多,因此形成破壞性冰晶的風險要高得多。因此,冷凍保護劑的使用更為頻繁。


2

冷凍替代和染色

為了保持熒光,還在無水丙酮中加入低濃度的0.1%醋酸鈾酰進行冷凍置換。有時會在胚胎或卵室上穿孔,以改善浸潤。


從圖2可以看出,替代階段比細胞長得多,即72小時,之后以3°C/小時的速率升溫。隨后,樣品在-45°C下再放置5小時,以確保適當染色效果。這是進行染色的關鍵步驟,因樣本而異。Ronchi等人認為,這對他們使用的樣本(如果蠅卵巢和幼蟲、乳腺器官)來說是選擇。


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圖2:用于類器官、組織、果蠅組織或小胚胎的EM AFS2冷凍替代方案2。


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滲透和聚合

在用無水丙酮進行三輪清洗后,使用Lowicryl® HM20浸潤樣本,在四個6小時的時間浸潤階段內,樹脂濃度不斷增加。在第三和第四個樹脂浸潤階段中,溫度升至-25°C,以進一步提高滲透率。溫度保持-20°C以下,以保持樣本的完整性,并利用樹脂的低粘度進行有效滲透,避免蛋白質破壞。在交換和再填充的三個循環過程中,溫度保持在-25°C,隨后進行48小時的紫外線聚合。在此過程中,EM AFS2上的液體處理裝置被紫外線燈取代。在最后升溫至20°C的過程中,確保樹脂硬化并穩定標本,以便進行后續的超薄切片步驟(例如,請參閱本應用說明熒光切片應用說明)。


為了利用熒光,對塊面進行靶標修塊,并進行包埋后 CLEM實驗(圖中未顯示),我們對上述方案進行了調整,使其適用于在基因上表達咽部和腸道標記的線蟲(圖3)。手動預先修整流通池。


舉例:


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圖3:熒光標記的秀麗隱桿線蟲包埋于Lowicryl® HM20樹脂。左圖:從EM AFS2流動室取出的聚合塊俯視圖。正方形表示蠕蟲前咽的紅色熒光信號。比例尺:200 µm。中心:方形區域特寫雙通道圖像,綠色顯示腸細胞的內質網,紅色顯示前咽。比例尺:100 µm。右圖:自動修塊后,包含目標蠕蟲的區塊面的俯視圖。樹脂塊右側是圓形的,這主要是由于通流室的邊緣。比例尺:100 µm。


隨后,在UC Enuity上設置修塊區域,以創建包含目標蠕蟲的塊面,并自動執行修塊,之后無需用戶再進行調整。


詳細的熒光自動修塊方案如下:



利用熒光定位自動修剪


調整后的方案如圖4所示


初始替代時間為48小時,隨后是13小時的升溫至-45°C。隨著HM20濃度的增加,遞增時間為4小時。這些步驟調整到介于上述方案持續時間之間。這與樣品的經驗、尺寸、表皮厚度和滲透性的經驗是一致的。


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圖4:用于秀麗隱桿線蟲的冷凍替代方案。


總結

在本文中,我們了解到在電子顯微鏡樣品制備過程中可以保存熒光。我們展示了相關方案并解釋了主要步驟。關鍵步驟是高壓冷凍和使用低濃度UA進行冷凍置換,以形成電子對比,然后嵌入丙烯酸樹脂中。


該工作流程使研究人員能夠在以下過程中使用熒光定位修塊,并可能在切片過程中進行靶向控制。


盡管如此,僅靠熒光引導對剛興趣區域,進行高效修塊,就已使研究人員能夠將電子顯微鏡數據,僅集中在目標區域,從而減少電鏡拍攝時間和總體成本。


樹脂內熒光還允許應用于CLEM。這一點尤為有用,因為在為EM制備樣品的過程中,樣品的收縮可能不均勻,導致包埋前的熒光和包埋后的EM數據無法精確關聯。


注意

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在本文中,我們引用了Ronchi等人(2021年)開發的樹脂內熒光(IRF)方案。這些方案特別用于證明僅由熒光支持的精確聚焦離子束-掃描電子顯微鏡靶向定位,但同樣適用于其他基于熒光的樹脂內靶向定位。


Ronchi et al., 2021:High-precision targeting workflow for volume electron microscopy.J Cell Biol 6 September 2021; 220 (9): e202104069. 


This article is available under a Creative Commons License (Attribution 4.0 International,

IRF原始方案和進一步閱讀


Nixon, S.J., Webb, R.I., Floetenmeyer, M., Schieber, N.,   Lo, H.P. and Parton, R.G. (2009), A Single Method for Cryofixation and Correlative Light, Electron Microscopy and Tomography of Zebrafish Embryos.交通,10:131-136. 


Wanda Kukulski, Martin Schorb, Sonja Welsch, Andrea  Picco, Marko Kaksonen, John A.G. Briggs; Correlated fluorescence and 3D electron microscopy with high sensitivity and spatial precision.J Cell Biol 10 January 2011; 192 (1):111-119. 


Christopher J. Peddie、Ken Blight、Emma Wil-son、Charlotte Melia、Jo Marrison、Raffaella Carzani-ga、Marie-Charlotte Domart、Peter O'Toole、Banafshe  Larijani、Lucy M. Collinson;Correlative and integrated light and electron microscopy of in-resin GFP fluores-cence, used to localise diacylglycerol in mammalian cells. Ultramicroscopy, Volume 143, 2014, Pages 3-14, ISSN 0304-3991. 


Biel, S.S., K. Kawaschinski, K.-P.Wittern, U. Hintze, and R.Wepf.2003.從組織到細胞超微結構:彌合微米與納   米尺度成像間的鴻溝J.Microsc.212:91-99. 


專題回顧:


Heiligenstein X和Lucas MS(2022年)。One for All, All for One:深入解析樹脂包埋內熒光技術方案在CLEM中的應用。


正面細胞開發德國10:866472


工作流程的主要啟示


熒光引導靶向。傳統的視覺線索有助于確定塊面的方向,但無法揭示樹脂中的標記結構。樹脂內熒光解決了這一問題,它通過特定的包埋方案保留熒光信號,從而可以直接修塊到細胞靶標或標記的細胞簇。這種靶向方法減少了不必要的切割,提高了效率,尤其在體電子顯微術和相關研究中。

體視和干涉視圖仍然不可少。體視顯微鏡可提供塊面的必要概覽,而干涉色仍然是快速可靠的厚度測量工具。當與熒光相結合時,這些方法可提供互補信息:體視和干涉可確定方向和厚度,而熒光可精確定位目標本身。

明場輔助對齊。在明視野中,觀察刀具和塊面之間的光隙,可讓操作員在嘗試切割前優化定位。這增加了信心,有助于避免在切割定位目標時,出現代價高昂的錯誤。同時,集成工作流程節省時間。

在顯微鏡和成像系統之間切換會減慢制備速度并增加變異性。UC Enuity將熒光體視顯微鏡和引導式修剪整合到一個程序中,簡化了導航和切割。這樣可以減少設置時間,最大限度地減少用戶誤操作,并確保多個操作員的結果具有可重復性。

CLEM工作流程同樣也能從中受益。熒光和電鏡信號之間的精確關聯對CLEM研究至關重要。通過可視化樹脂中的標記細胞,UC Enuity使研究人員能夠無縫連接數據集,使光電關聯項目更快、更可靠。

漸進式技能培養。新用戶可以從明場和干涉檢查開始,學習切片厚度和對齊的基礎知識。隨著信心的增強,可以引入熒光導航,分階段培養技能。這種分階段發展的方法,可確保實驗室能夠采用熒光工作流程,而不會讓受訓人員感到力不從心。


下一篇我們將介紹 切之前先看見:Micro-CT如何幫助精準定位樣品內部結構?


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