


熒光壽命作為納米環(huán)境的探針
熒光壽命是每種熒光染料或分子的特征參數(shù),可能隨其納米級周圍環(huán)境或構象狀態(tài)而變化。壽命信息可探測分子所處環(huán)境的組成特性,例如離子濃度、pH值、脂溶性或與其他分子的結合情況。

壽命測量與成像相結合

LIM將壽命測量與成像相結合:對像素級獲得的壽命值進行顏色編碼,從而生成圖像。因此,FLIM不僅能提供熒光分子的空間分布信息,還能同時反映其納米環(huán)境的相關特性,從而帶來額外維度的信息。

FLIM數(shù)據(jù)采集和分析原理


FLIM解決方案

利用STELLARIS 8 FALCON系統(tǒng)的FLIM功能。有效研究細胞生理學并探索活細胞的動態(tài)變化。

U2OS細胞經(jīng)α-tubulin(AF546)和vimentin(AF555)免疫染色后的強度與FLIM圖像[1]。比例尺為5µm,顏色條范圍為0–3ns。
資料來源

L.Alvarez, B. Widzgowski, B. van den Broek, G. Ossato, K. Jalink, L. Kuschel, J. Roberti, F. Hecht: 實現(xiàn)視頻速率共焦FLIM的熒光壽命成像新概念 :使用SP8 FALCON,科學實驗室(2019年)徠卡微系統(tǒng)公司。
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