當材料研究從宏觀形貌走向微區結構，僅僅“看見"樣品已經不夠。研究人員還需要更高的分辨率，識別不同區域的發光差異，分析弱熒光信號，并在二維、三維乃至時間維度上建立完整、可追溯的成像證據。

面向材料科學研究與工業分析需求，Leica DM8熒光共聚焦系統正式亮相。從反射光熒光共聚焦成像，從點掃描光路到多維數據采集，DM8致力于幫助用戶在復雜材料樣品中發現更多細節，讓微區發光特性從圖像走向證據。

傳統二維圖像可以呈現樣品表面的平面信息，但對于多層結構、更小的微觀細節以及隨時間發生的變化，研究人員往往需要更豐富的數據維度。

DM8可沿Z軸連續采集光學切片，用于重建樣品內部結構。在XYZ空間信息基礎上，還可疊加時間序列，實現XYZT多維數據采集，為材料內部結構觀察和動態變化追蹤提供更完整的成像基礎。LAS X Navigator則支持從大視野定位逐步進入多維數據采集流程。

材料樣品的發光特性往往具有較大的波長差異。面對未知材料、自發熒光樣品或多種熒光組分，固定激光譜線和固定檢測窗口可能限制實驗設計。

DM8采用棱鏡分光與AOBS，可實現激發譜線的精確調諧。其可調光譜檢測范圍為410至850 nm，發射檢測波段可自由設置，最小檢測帶寬為5 nm，最多可同時選擇8根譜線。窄激發缺口設計有助于減少發射信號損失，為不同激發與檢測組合提供更高靈活性。

DM8 WLL白激光器的標準連續可調范圍為485至685 nm，最多可同時輸出8根譜線。系統可選NIR擴展至790 nm，WLL Plus范圍為440至790 nm。通過激發與發射光譜掃描，用戶可以優化染料選擇與接收范圍，材料自發熒光光譜掃描也不再受固定激光譜線的限制。

Power HyD S探測器，可實現高靈敏度光譜檢測、弱信號成像。

• 藍綠區PDE相較傳統PMT提升＞2倍

• 500?nm 典型PDE可達 58%

• 更亮的信號，保留更多圖像細節

• 更多熒光顏色自由組合，提升檢測靈活性

DM8聚焦材料微區發光特性分析，可面向多種制造業材料科學與工業研究方向，包括：

上海市長寧區福泉北路518號，2號樓5樓

上海， 200335 China

北京市朝陽區東三環北路27號樓嘉銘中心A座19樓

徠卡儀器有限公司北京分公司， CN-100044 China

廣州國際生物島星島環北路1號B2棟501、502單元

徠卡儀器有限公司廣州分公司， CN-510075 China

成都市錦江區東御街18號 百揚大廈1709室，CN-610063 China

陜西省西安市雁塔區南二環西段64號凱德廣場寫字樓8樓09室，710065 China